X熒光光譜儀是將光打到樣品上時，樣品分子會使入射光發(fā)生散射，若部分散射光的頻率發(fā)生改變，則散射光與入射光之間的頻率差稱為拉曼位移。本儀器主要就是通過拉曼位移來確定物質(zhì)的分子結(jié)構(gòu)，針對固體、液體、氣體、有機物、高分子等樣品均可以進行定性定量分析。因此，與紅外吸收光譜類似，對拉曼光譜的研究，也可以得到有關(guān)分子振動或轉(zhuǎn)動的信息。目前該技術(shù)已廣泛應用于物質(zhì)的鑒定、分子結(jié)構(gòu)的研究。

 

　　盡管X熒光光譜儀具有很高的精度，但是由于許多因素的影響，仍然存在一定的誤差，那么如何才能巧妙地避免本儀器的誤差呢？

 

　　1、系統(tǒng)誤差的來源

 

　　（1）當標準樣品和樣品的含量和化學組成不相同時，可能會導致矩陣線和分析線的強度發(fā)生變化，從而引入錯誤。

 

　　（2）當標準樣品的物理性質(zhì)和樣品的物理性質(zhì)不相同時，激發(fā)的特征譜線將不同，這將導致系統(tǒng)誤差。

 

　　（3）當處于澆鑄狀態(tài)的鋼樣品的金屬結(jié)構(gòu)與處于退火，淬火，回火，熱軋和鍛造狀態(tài)的鋼樣品的金屬結(jié)構(gòu)不同時，測得的數(shù)據(jù)將有所不同。

 

　　（4）未知元素光譜的重疊干擾。例如，在熔煉過程中添加脫氧劑和脫硫劑時，未知的合金元素會混入系統(tǒng)中，從而導致系統(tǒng)誤差。

 

　　（5）為了消除系統(tǒng)誤差，有必要嚴格遵守標準樣品制備的要求。為了檢查系統(tǒng)錯誤，有必要使用化學分析方法來分析多次校對的結(jié)果。

 

　　2、偶然誤差的來源

 

　　與樣品成分不均勻有關(guān)的誤差。由于光電光譜分析消耗的樣品很少，因此樣品中元素分布的不均勻性和組織結(jié)構(gòu)的不均勻性會導致不同部位的分析結(jié)果不同，并偶爾出現(xiàn)誤差。

 

　　（1）在熔煉過程中引入夾雜物，導致偏析導致樣品中元素分布不均。

 

　　（2）樣品的缺陷，氣孔，裂縫，水泡等。

 

　　（3）諸如交叉研磨模式，樣品研磨的過熱，樣品研磨表面的時間過長以及指紋等因素。

 

　　（4）為了減少意外誤差，必須仔細取樣以消除樣品的不均勻性和樣品的鑄件缺陷。也可以重復分析幾次以減少分析誤差。