X熒光光譜儀是根據X射線熒光光譜分析方法配置的儀器，由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。能夠分析固體或粉狀樣品中各種元素的成分含量，具有靈敏度高、精密度好、性能穩(wěn)定、分析速度快等特點，是一種中型、經濟、高性能儀器。

　　該儀器要求具有高的分辨率和信噪比、更好的強度準確性和波長準確性以及強的抗外界干擾性和優(yōu)良的儀器穩(wěn)定性，在儀器的軟件上，要求能夠進行導數(shù)、去卷積等復雜的數(shù)學計算，能夠計算光譜間相似度、模式識別分析、支持多元校正分析和用戶自建譜庫并進行檢索。

　　今天小編要與大家分享的是X熒光光譜儀所常采用的三種測量方法：

　　1、時間延遲法：由產生熒光的原理可知，熒光從產生到*消失，它有一個時間過程（即從高能級的非穩(wěn)態(tài)躍遷到低能級的亞穩(wěn)態(tài)或穩(wěn)態(tài)的時間）。不同的物質，這個時間的長短是不一樣的，它們從幾微秒到幾分鐘不等。我們可以給探測器的快門一個延遲時間，讓激發(fā)光*消失后開始對熒光采樣。在一些特殊條件，如用反射探針測固體、液體的熒光時，光路無法90°布置，這時需要通過延遲采樣時間來分離出熒光。

　　2、濾波法：從熒光產生原理可知，熒光的波長大于激發(fā)光的波長。我們在探測器前面放一個長通濾波片，它的截至波長稍大于激發(fā)光波長。這樣，只有熒光才能被探測器采集。該法的另一個好處是可以濾掉一部分雜散光，但是它也可能濾掉一部分熒光。

　　3、90°布置法：激發(fā)光和探測器90°方向布置。由于熒光沒有方向性，它向四周發(fā)射，因此可以把探測器放在與激發(fā)光成90°的位置來接收熒光。大部分的熒光測量裝置都采用此方法（同時常常配上其它方法）。