X熒光光譜儀是根據X射線熒光光譜分析方法配置的儀器，由激發源（X射線管）和探測系統構成。能夠分析固體或粉狀樣品中各種元素的成分含量，具有靈敏度高、精密度好、性能穩定、分析速度快等特點，是一種中型、經濟、高性能儀器。

　　該儀器要求具有高的分辨率和信噪比、更好的強度準確性和波長準確性以及強的抗外界干擾性和優良的儀器穩定性，在儀器的軟件上，要求能夠進行導數、去卷積等復雜的數學計算，能夠計算光譜間相似度、模式識別分析、支持多元校正分析和用戶自建譜庫并進行檢索。

　　今天小編要與大家分享的是X熒光光譜儀所常采用的三種測量方法：

　　1、時間延遲法：由產生熒光的原理可知，熒光從產生到*消失，它有一個時間過程（即從高能級的非穩態躍遷到低能級的亞穩態或穩態的時間）。不同的物質，這個時間的長短是不一樣的，它們從幾微秒到幾分鐘不等。我們可以給探測器的快門一個延遲時間，讓激發光*消失后開始對熒光采樣。在一些特殊條件，如用反射探針測固體、液體的熒光時，光路無法90°布置，這時需要通過延遲采樣時間來分離出熒光。

　　2、濾波法：從熒光產生原理可知，熒光的波長大于激發光的波長。我們在探測器前面放一個長通濾波片，它的截至波長稍大于激發光波長。這樣，只有熒光才能被探測器采集。該法的另一個好處是可以濾掉一部分雜散光，但是它也可能濾掉一部分熒光。

　　3、90°布置法：激發光和探測器90°方向布置。由于熒光沒有方向性，它向四周發射，因此可以把探測器放在與激發光成90°的位置來接收熒光。大部分的熒光測量裝置都采用此方法（同時常常配上其它方法）。