技術文章
Technical articlesX熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質測量方法，是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調查和研究，地球化學，法醫學，考古學和藝術品，例如油畫和壁畫。X熒光光譜儀通常用以下一種或幾種方法來分離熒光：1、90°布置法：激發光和探測器90°方向布置。由于熒光沒有方向性，它向四周發射，因此可以把探測器放在與激發光成90°的位置來接收熒光。大部分的熒光測量裝置都采用此方法（同時常常配上其它方法）。...
一、里氏測試基本原理隨著單片發展，1978年，瑞士人Leeb博士提出了一種測硬方法，它的基本原理是具有質量的沖擊體在試驗力作用下沖擊試樣表面，測量沖擊體距試樣表面1mm處的沖擊速度與回跳速度，利用電磁原理，感應與速度成正比的電壓。里氏硬度值以沖擊體回跳速度與沖擊速度之比來表示。計算公式：HL=1000*(VB/VA)式中：HL――里氏硬度值VB――沖擊體回跳速度VA――沖擊體沖擊速度二、里氏沖擊裝置里氏硬度度有D、DC、D+15、C、G、E、DL七種：D：外型尺寸：f20*1...
涂鍍層測厚儀采用電磁感應法測量涂層的厚度，位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以準確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。今天小編要為大家帶來的是涂鍍層測厚儀的常見故障及解決方法：1、示值顯現不穩定致使儀器示值顯現不穩定的要素主要是來自工件本身的資料和構造的特別性，再者，被測件的外表粗糙度和附著物也是致使儀器示值顯現不穩定的重要要素，其探頭對那些阻礙與覆蓋層外表...
超聲波探傷中探頭的選用原則超聲波探頭的類型很多,性能各異,因些根據超聲波探傷對象的形狀、對超聲波的衰減和技術要求合理選用探頭,是保障探傷結果正確的基礎。對超聲波探頭的選擇包括探頭型式、探頭頻率、探頭晶片尺寸和橫波斜探頭K值選擇等。探頭型式的選擇一般根據工件的形狀和可能出現缺陷的部位、方向等條件來選擇探頭的形型,盡量使超聲波聲束軸線與缺陷垂直。直探頭只能發射和接收縱波,波束軸線垂直于探傷面,主要用于探測與探測面平行的的缺陷,如鍛件、鋼板中的夾層、折疊等缺陷。斜探頭是通過波型轉換...
如何快速的找到自己的需求產品，選擇一款合適的，既能滿足使用，又不耗時耗力的去尋找品牌，型號之類的，可以給您建議選擇正確的測厚儀，首先需要先了解常見的測厚儀分類：1.磁性測厚法:適用于測量各種磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，可以測量鋼鐵上的各種電鍍(鍍鎳除外)、涂層、琺瑯、塑料等覆蓋層厚度，還可用于測量各種金屬箔(如銅箔、鋁箔、金箔等)和非金屬薄膜(如紙張、塑料等)的厚度。2.渦流測厚法:用于檢測各種非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度。例如:鋁型材、鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁工件...
一、直讀光譜儀的慨況原子發射光譜分析的原理是用電?。ɑ蚧鸹ǎ┑母邷厥箻悠分性貜墓虘B直接氣化并被激發而發射出元素的特征波長，用光柵分光后，成為按波長排列的“光譜”，這些元素的特征光譜線通過出射狹縫，射入各自的光電倍增管，光信號變成電信號，經儀器的控制測量系統將電信號積分并進行模/數轉換，然后由計算機處理，并得出元素的百分含量。從以上原理可以看出原子發射光譜分析，有其適合于配合鋅合金廠爐前分析的優點，其特點如下：1.爐中取的樣品只要打磨掉表面氧化皮，固體樣品放在樣品臺上激發，免...
滲碳后鋼或高碳鋼在熱加工后有碳損失現象。碳損失的表層叫“脫碳層”。脫碳層表面為部分和全脫碳，部分和全脫碳的總和稱為總脫碳?？偯撎紝由疃仁侵敢蛎撎夹纬傻偷奶己勘砻娴降扔诨w碳含量那點的距離。用硬度法測量鋼的脫碳層深度適用于脫碳層有一定深度但和淬火區厚度相比卻又較小的亞共析、共析、過共析鋼。一、顯微維氏硬度法檢測1.GB244-87中關于脫碳層深度的測量界限規定：（1）由試樣邊緣測至技術條件規定的硬度值處；（2）由試樣邊緣測至硬度值平穩處；（3）由試樣邊緣測至硬度值平穩處的某一...
1硬化層深度檢測方法1、適用范圍（1）滲碳和碳氮共滲硬化層（DC）A深度大于0.3mm的零件。（2）經熱處理至硬度值后，離表面三倍于硬化層處硬度小于450HV的零件。不能達到上述條件的鋼件，經協議可另行確定硬化層深度。對于離表面三倍于硬化層處硬度大于450HV的零件，可采用比550HV大的硬度值（以25HV為一級）來測定硬化層深度。2、技術規定（1）、滲碳或碳氮共滲淬火后，硬化層深度，從零件表面到維氏硬度值唯550HV處的垂直距離。（2）、測定硬度鎖采用的檢測力為9.807N...
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